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分析測厚儀測量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)的原因

發(fā)布時(shí)間: 2022-09-26  點(diǎn)擊次數(shù): 520次
   每一種測厚儀器都有一個(gè)臨界厚度,大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響;對試件表面形狀的陡變敏感,因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的;試件的曲率對測量有影響,隨著曲率半徑的減少明顯地增大,因此,在彎曲試件的表面上測量也是不可靠的;
  基體金屬和的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大,影響增大,粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測量時(shí),在不同的位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙,還必須在未涂的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn),或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解去除后,再校對儀器的零點(diǎn);
  周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,會嚴(yán)重干擾磁性測厚工作;
  探頭會使軟試件變形,因此在這些試件上測不出可靠的數(shù)據(jù);
  妨礙探頭與表面緊密接觸的附著物質(zhì),必須清除,在測量中,要保持壓力恒定,探頭與試件表面保持垂直,才能達(dá)到精確的測量。
  磁性法測量厚度受基體金屬性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn);
  基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份及熱處理方法有關(guān),應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
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