詳情介紹
研究開發出日本*臺熒光x射線鍍層厚度測量儀SFT-155經過20多年的努力。現在的熒光x射線鍍層厚度測量儀能夠正確的測量微小面積的鍍層厚度。已為*電子另部件;印刷電路版;汽車另部件;各種電鍍產品生產及相關廠商所谻同。從此。“SFT”“XRF”幾乎成為鍍層厚度測量儀的代名豤。本公司是美國熱電在中國和香港地區的代理和售后維修服務中心。
X光測厚儀特征 :
1可測量電鍍;蒸鍍 離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
2可通過CCD攝相機來觀察及選擇微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量。避免直接接觸或破壞被測物。
3備有250個以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。
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