X光膜厚儀
簡要描述:韓國MicroPioneer X-射線熒光膜厚儀/測厚儀,主要應用于一般工件、線路板、五金電鍍、半導體支架電鍍、人造首飾、端子及電子元器件等產(chǎn)品的各種鍍層行業(yè)的一款儀器
- 產(chǎn)品型號:
- 廠商性質(zhì):代理商
- 更新時間:2023-03-14
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韓國MicroPioneer X-射線熒光膜厚儀/測厚儀,主要應用于一般工件、線路板、五金電鍍、半導體支架電鍍、人造首飾、端子及電子元器件等產(chǎn)品的各種鍍層行業(yè)的一款儀器,全自動軟件操作,多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺,是一款功能強大的儀器
現(xiàn)在市場上膜厚儀主要有:菲希爾(FISCHER), 精工(SII),韓國(MicroPioneer),牛津(CMI)。國產(chǎn)的有:天瑞,三V儀器。在測量精度和性能上,國產(chǎn)的基本上是沒用,只能擺著看。
膜厚儀在穩(wěn)定,故障率,和精度,方面來講,只能說菲希爾(FISCHER)韓國(MicroPioneer),牛津(CMI)這四*是*。市場上占有率zui大的也是這四*,
四*主要用于五金電鍍廠,鐘表,端子,連接器,TED,衛(wèi)浴,線路板,及一些復雜的電鍍領域,如合金鍍層,二元合金,三元合金,等多元合金
菲希爾(FISCHER)占有市場的30%,在測量精度,還是儀器穩(wěn)定上來說都很不錯。但由于價格高昂,維修,消耗品(如標準片,一片的價格可以買其他品牌的3片,且無法更換其他品牌的使用)雖然儀器精度高。穩(wěn)定性好。但市場主要為早期所建立。
精工(SII)主要對應大的日資企業(yè),軟件應用,相比菲希爾要麻煩一些。它所采用的是標準曲線法,來建立測量檔案。所以需要大量的厚度不一的標準塊。儀器穩(wěn)定性和精度也還是不錯的。不過有一點。日本原裝的,比上海組裝的要好。現(xiàn)在精工所銷售的。大部份是上海組裝的。品質(zhì)相對的來說。會差一點。售后維修也是高昂,且中國人民也是抵制日貨的。
韓國(MicroPioneer)和牛津(CMI), 而牛津(CMI)因為配置是zui低端的配置如CMI900所以價格比較低,測量數(shù)據(jù)沒有四年前進口機型穩(wěn)定。zui主要的是故障率太高了,更換配件的成本很高。CMI也是用標準曲線法來建立測量檔案的。也需要購買標準塊,雖然價格低。但后期一但出現(xiàn)故障要更換配件。而且在對于合金鍍層,和薄金。薄鎳,等一些元素的測量上,那個誤差大的相當離譜。甚至測不到。
韓國(MicroPioneer)有高中低3個款型,測試的準直器也有1-5個可選,除了對復雜的電鍍領域(如金厚度為0.01um以下)的不是很準確,其他鍍層都可以測試達到標準,主要價格方面低過菲希爾(FISCHER), 精工(SII),牛津(CMI)許多,在每年的軟件更新后和硬件的升級。也受到國內(nèi)廠商的大力好評,如美的(美的順德,武漢,重慶,合肥,蕪湖,都以采購使用),比亞迪(2012投標以使用),富士康(2007年使用之今)等多個客戶群。可以來電 深圳市瑞思遠科技有限公司 索取使用客戶資料。
產(chǎn)品介紹
X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分,可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。
XRF-2000 系列分為以下叁種:
1. H-Type :密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約
2. L-Type : 密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約
3. PCB-Type : 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約
應用
測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。
行業(yè)
五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。
特色
非破壞,非接觸式檢測分析,快速精準。
可測量高達六層的鍍層 (五層厚度 底材 ) 并可同時分析多種元素。
相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報告 。
全系列*設計樣品與光徑自動對準系統(tǒng)。
標準配備: 溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。
準直器口徑多種選擇,可根據(jù)樣品大小來選擇準值器的口徑。
移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差 。
*2D與3D或任意位置表面量測分析。
雷射對焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
標準ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專業(yè)報告格式,亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計等作成完整報告 。
光學2 0X 影像放大功能,更能精確對位。
單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。
優(yōu)於美製儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的*優(yōu)勢。
儀器正常使用保固期一年,強大的專業(yè)技術支援及良好的售后服務。
測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。
韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀
是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能,
其物點為:高分辨率,固態(tài)探測器; 可分析超薄樣品
分析有害物質(zhì),元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優(yōu)化的應用;
可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;
電鍍?nèi)芤悍治觯?/span>
定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規(guī)則形狀;
貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);
自動過濾器,多準直儀(五個準直器,從
性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
儀器尺寸:W
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